Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, coatings, cavity, microwave devices, fabrication, test results, X-ray diffraction, microstructure, resistive transition
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.